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工业金相显微镜 GX400(上海光学仪器厂 上光新光学)图1工业金相显微镜 GX400(上海光学仪器厂 上光新光学)图2工业金相显微镜 GX400(上海光学仪器厂 上光新光学)图3

工业金相显微镜 GX400(上海光学仪器厂 上光新光学)

1970-01-01 08:002120询价
价格:未填
品牌:4852
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工业金相显微镜 GX400(上海光学仪器厂 上光新光学)
无限远光学系统,带同轴落射照明和偏光装置,大平台和升降立柱适宜高大试样,可用于大工件金相检测,电子行业大面积硅晶圆,PCB和LCD等。
●  三目五孔:50×-500×,带分划目镜和测微尺.
●  广角大目镜WF10×/22, 无限远平场物镜5×,10×,20×,50×.
●  仪器基座300*240mm,机械载物台250*200mm,移动100*100mm.
●  升降范围120mm,同轴粗微动调焦≥30mm,微调1µm.
●  同轴落射照明,可变孔径和视场光阑,内切换偏光装置.
选配:物/目镜,暗视野,微分干涉,图像系统,压平机,金相制样设备.
明暗场金相显微镜 GX400BD(上海光学仪器厂 上光新光学)
配置明暗场物镜和明暗场照明系统,提高了显微镜的分辨率和物像反差,减少眩光干扰,对试样中的某些不可见夹杂物、透明颗粒、晶界晶粒和固有色彩均能明晰地显现及进行对比、评级等。
微分干涉金相显微镜 GX400-DIC(上海光学仪器厂 上光新光学)
配置微分干涉相衬系统,通过干涉光路的折射使被观察物产生立体浮雕效果,突出相对层次关系,更清晰地辨别试样中看不到的或难于判别的一些结构细节或缺陷,DIC相衬图像清晰,干涉均匀,浮雕感强。
明暗场微分干涉金相显微镜 GX400BD-DIC(上海光学仪器厂 上光新光学)
配置明暗场物镜和明暗场照明系统,提高了显微镜的分辨率和物像反差,减少眩光干扰,对试样中的某些不可见夹杂物、透明颗粒、晶界晶粒和固有色彩均能明晰地显现。
并以DIC微分干涉相衬系统,使暗视野下的清晰图像,通过干涉光路的折射使被观察物产生立体浮雕效果,突出相对层次关系,清晰地辨别试样中看不到的或难于判别的一些结构细节或缺陷,更具有立体浮雕感,DIC相衬图像清晰,干涉均匀和浮雕感强。
 
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