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万能测长仪 JDY-2(上海光学仪器厂 上光新光学)
1970-01-01 08:00
394
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面议
发货
上海
品牌
4852
该产品库存不足
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万能测长仪 JDY-2(上海光学仪器厂 上光新光学)
万能测长仪可用于各种圆柱形、球形、平行平面等精密器具和零件的外形、内孔尺寸的直接测量和比较测量(如量块,量棒,塞规,样圈,钢球等),及内外螺纹的中径等测量,还可以使用仪器的附件进行各种特殊测定工作,是计量室必备设备和经典教学仪器之一。
● 直接测量:0~100mm, 比较测量:0~500mm.
● 读数显微镜:分划值0.001mm, 稳定性0.3~0.5μm.
主要附件:顶针架,测钩,测头测帽,螺纹测量装置,内测装置,标准环规等.
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