双折射/残余应力测量仪 WPA-200-XL

 WPA-200-XL 

主要特点：

• 操作简单，测量速度可以快到3秒。 
• 采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。
• 测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。
• 具有多种分析功能和测量结果的比较。
• 维护简单，不含旋转光学滤片的机构。

主要应用:

• 光学零件（镜片、薄膜、导光板）
• 透明成型品（车载透明零件、食用品容器）
• 高分子材料（PET PVA COP ACRYL PC COC PMMA）
• 透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）

 技术参数:

项次	项目	具体参数
1	输出项目	相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】
2	测量波长	520nm、543nm、575nm
3	双折射测量范围	0-3500nm
4	测量最小分辨率	0.001nm
5	测量重复精度	<1nm（西格玛）
6	视野尺寸	218x290mm-360×480mm（标准）
7	选配镜头视野	无选配
8	选配功能	实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制，CD模式

测量案例：