ASTM冲击试样缺口投影仪

CST-50X型冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种专用光学仪器，与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，对比直观，操作简单，效率高。是理化试验室的必备专用设备。
主要技术参数：
投影屏：       200×200mm
放大倍数：     50X
光源：         12V   100W（卤钨灯）
电源：         220V  50Hz   150W
外型尺寸：     515×224×603mm
重量：         约18Kg