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能量色散型微区X射线荧光光谱仪 μEDX系列
1970-01-01 08:00
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价格:未填
品牌:267
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技术参数
●测定原理 X射线荧光分析法
●测定方法 能量色散型
●测定对象 固体、液体、粉体
●样品形状 最大150mm× 150mm× 40mmH
●X射线管 Rh靶
●检测器 Si(Li)半导体检测器(μEDX-1200/1300型)
Si漂移半导体检测器(μEDX-1400型)
●测定范围 13Al ~ 92U (μEDX-1200型)
11Na ~ 92U (μEDX-1300型)
13AL ~ 92U (μEDX-1400型)
主要特点
μEDX系列X射线荧光光谱仪可以高灵敏度地分析很小的样品。对于需要高分辨率同时高X射线强度才能进行测定的电子部件、电路板以及材料中的异物等微小局部的测定,本装置可进行高灵敏度、高分辨率,分析直径最小至50μm的分析。
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