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XLE-3型大平台检测显微镜
XLE-3型大平台检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路、晶片的质量检测而设计开发制造的。
正置式，三目镜筒，比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连接彩色监视器可直接观察。可连接计算机打印报告、照片或连接数码相机，照相机直接拍摄，还可以直接进行图像记录，并建立技术检测档案，存储，查询，可省去复杂烦琐的摄影，洗印等暗室工作，大大提高了工作效率。
1） 放大倍数：40倍至500倍
超大型载物台，可做大范围的纵横方向快、慢速移动，扩大检测领域的使用范围，适用于电子、冶金、机械、化工、科研、院校等部门，以及金相技术检验，实效分析等。
检测显微镜具有独特的特点：
- 放大倍数：40X-500X
- 超大型载物台，样品可以大范围的快慢速移动，扩大检测领域的使用范围，适用于电子、机械、化工、科研、院校等部门，以及金相技术检验、失效分析等。
显微镜技术参数：
1、物镜
|
物 镜 |
数值孔径（N.A) |
有效工作距离（mm） |
介 质 |
|
4X |
0.10 |
17.912 |
干 |
|
10X |
0.25 |
6.544 |
干 |
|
20X |
0.40 |
1.05 |
干 |
|
40X |
0.65 |
0.736 |
干 |
2、目镜：10X、12.5X 现视场直径：18mm
3、总放大倍率：40X-500X
4、载物台面积：350mm X 255mm
纵向移动行程：200mm 横向移动行程：200mm
